电子(zi)元器(qi)件(jian)现状与趋势分析-电子(zi)元器(qi)件(jian)分类与检测大全-KIA MOS管
信息来源：本站(zhan) 日(ri)期：2019-07-31
电(dian)子(zi)元(yuan)器件(jian)是电(dian)子(zi)元(yuan)件(jian)和电(dian)小型的机(ji)器、仪(yi)器的组成部分，其本身常由若干零件(jian)构(gou)成，可以在(zai)同(tong)类产品中通用；常指电(dian)器、无线(xian)电(dian)、仪(yi)表等(deng)工业的某些(xie)零件(jian)，如电(dian)容、晶体管、游丝、发条等(deng)子(zi)器件(jian)的总(zong)称。常见的有二极管等(deng)。
电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)元器件(jian)包括(kuo)：电(dian)(dian)(dian)(dian)阻、电(dian)(dian)(dian)(dian)容器、电(dian)(dian)(dian)(dian)位器、电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)管、散热器、机电(dian)(dian)(dian)(dian)元件(jian)、连接器、半(ban)导体分(fen)立器件(jian)、电(dian)(dian)(dian)(dian)声器件(jian)、激光器件(jian)、电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)显示器件(jian)、光电(dian)(dian)(dian)(dian)器件(jian)、传(chuan)感(gan)器、电(dian)(dian)(dian)(dian)源(yuan)、开关、微特电(dian)(dian)(dian)(dian)机、电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)变压器、继电(dian)(dian)(dian)(dian)器、印制电(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)板、集成(cheng)电(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)、各(ge)类电(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)、压电(dian)(dian)(dian)(dian)、晶体、石(shi)英、陶瓷磁性材料(liao)、印刷电(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)(lu)用基材基板、电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)功(gong)能工(gong)艺专(zhuan)用材料(liao)、电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)胶（带）制品(pin)、电(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)化学(xue)材料(liao)及(ji)部品(pin)等(deng)。
电子(zi)元(yuan)器(qi)件在质量方面国际上(shang)有欧盟(meng)的(de)CE认(ren)证(zheng)，美国的(de)UL认(ren)证(zheng)，德国的(de)VDE和TUV以及(ji)中国的(de)CQC认(ren)证(zheng)等国内外认(ren)证(zheng)，来保证(zheng)元(yuan)器(qi)件的(de)合格。
（一）电子元器件行业现状
我国电(dian)(dian)子(zi)元件的产(chan)量已占全球的近39%以上(shang)。产(chan)量居世界第一(yi)的产(chan)品有：电(dian)(dian)容器(qi)、电(dian)(dian)阻器(qi)、电(dian)(dian)声器(qi)件、磁性材料、压电(dian)(dian)石(shi)英晶体、微特电(dian)(dian)机、电(dian)(dian)子(zi)变(bian)压器(qi)、印(yin)制电(dian)(dian)路板(ban)。
伴随我国电(dian)子信息(xi)产业规(gui)模的(de)扩大(da)(da)，珠江(jiang)(jiang)三(san)角洲(zhou)、长江(jiang)(jiang)三(san)角洲(zhou)、环渤海湾地区(qu)(qu)、部(bu)分(fen)中西部(bu)地区(qu)(qu)四(si)大(da)(da)电(dian)子信息(xi)产业基地初步形(xing)成。这些(xie)地区(qu)(qu)的(de)电(dian)子信息(xi)企业集中，产业链较完整，具有相当的(de)规(gui)模和配套能力。
我国电(dian)子材(cai)料和(he)元(yuan)器件产(chan)(chan)业(ye)存(cun)在一些(xie)主(zhu)要问题：中低档产(chan)(chan)品过剩，高端产(chan)(chan)品主(zhu)要依赖进口；缺乏核心技术，产(chan)(chan)品利润较低；企业(ye)规(gui)模较小，技术开发投入不(bu)足。
（二）电子元器件趋势分析
国(guo)(guo)务院发(fa)布的《“十(shi)二五”国(guo)(guo)家战(zhan)略性(xing)新(xin)(xin)兴产(chan)(chan)业(ye)(ye)发(fa)展规划》，到2015年(nian)力争(zheng)使战(zhan)略性(xing)新(xin)(xin)兴产(chan)(chan)业(ye)(ye)占国(guo)(guo)内(nei)生(sheng)产(chan)(chan)总值(GDP)的比重从(cong)2010年(nian)的不到4%提高到8%左右，到2020年(nian)这(zhei)个(ge)比例(li)争(zheng)取达到15%。同时，“十(shi)二五”期(qi)间，新(xin)(xin)一(yi)(yi)代信(xin)息(xi)技(ji)术产(chan)(chan)业(ye)(ye)销售(shou)收(shou)入年(nian)均增长20%以上。这(zhei)里(li)的“新(xin)(xin)一(yi)(yi)代信(xin)息(xi)技(ji)术”包括：超高速(su)光(guang)纤与无线通信(xin)、物联网、云计算、数字虚拟(ni)、先进半导体(ti)和(he)(he)新(xin)(xin)型显示等(deng)。其(qi)中(zhong)，与电子产(chan)(chan)业(ye)(ye)相(xiang)关的核(he)心产(chan)(chan)业(ye)(ye)有(you)：集成电路产(chan)(chan)品设计、先进和(he)(he)特色(se)芯片(pian)制造工(gong)艺(yi)技(ji)术，先进封(feng)装、测(ce)试技(ji)术以及关键设备、仪器(qi)(qi)，新(xin)(xin)一(yi)(yi)代半导体(ti)材料和(he)(he)器(qi)(qi)件工(gong)艺(yi)技(ji)术。
由此可见(jian)，未来的(de)(de)三至五(wu)年，是电子元器(qi)(qi)件行业发展(zhan)的(de)(de)黄(huang)金时(shi)期，有国家政(zheng)策的(de)(de)很好支持，同时(shi)科技研究的(de)(de)进步也会促进电子元器(qi)(qi)件行业向更深的(de)(de)层次发展(zhan)。
未来电子(zi)元器件行(xing)业发(fa)展趋势：
第一(yi)，在集(ji)成(cheng)电(dian)路(lu)设(she)计方面(mian)，国产芯片和软件的集(ji)成(cheng)应(ying)用(yong)的强化。期(qi)待(dai)到(dao)2015年，集(ji)成(cheng)电(dian)路(lu)设(she)计业产值国内市场比重(zhong)由5%提高到(dao)15%。
第二(er)，在(zai)显示技术方面，要(yao)积极有(you)序发(fa)展大尺寸膜晶体(ti)管液晶显示(TFT-LCD)、加快推进有(you)机发(fa)光二(er)极管(OLED)、三维立体(ti)(3D)、激(ji)光显示等新一代显示技术的(de)研发(fa)和产业化。
第三，在LED产(chan)业(ye)方(fang)面，攻克LED、OLED产(chan)业(ye)共性(xing)关(guan)键技(ji)术和关(guan)键装备，提高LED、OLED照(zhao)明的经济性(xing)。
第四，在(zai)新型元(yuan)器件方面，掌握智(zhi)能(neng)传感器和新型电力电子器件及系统(tong)的(de)核心(xin)技(ji)术，提(ti)高(gao)新兴领域专用(yong)设(she)备仪器保障和支撑能(neng)力，发展片式化(hua)、微型化(hua)、绿色化(hua)的(de)新型元(yuan)器件。
主(zhu)动电(dian)子(zi)元器件和被动电(dian)子(zi)元器件区别(bie):
主动元件(Active component有源(yuan)器件):电路元件中(zhong)能够执行资料运(yun)算、处理(li)的元件.
(包括各(ge)式各(ge)样的(de)晶(jing)片,例(li)如半导体(ti)元件中的(de)电晶(jing)体(ti)、积(ji)体(ti)电路(lu)、影像(xiang)管和显(xian)示器(qi)等都(dou)属于主动(dong)元件。
被动(dong)元(yuan)件（Passive component无源(yuan)器件）:不影(ying)响(xiang)信号基本(ben)特征,而(er)仅(jin)令讯号通过(guo)而(er)未加以(yi)更动(dong)的电路(lu)元(yuan)件.
(最(zui)常见的(de)有(you)(you)电(dian)(dian)阻、电(dian)(dian)容(rong)、电(dian)(dian)感、陶振(zhen)、晶振(zhen)、变(bian)压器(qi)等如果电(dian)(dian)子元器(qi)件(jian)工(gong)作时(shi)，其(qi)内部没有(you)(you)任(ren)何形式的(de)电(dian)(dian)源，则这(zhei)种器(qi)件(jian)叫做无(wu)源器(qi)件(jian)。从(cong)电(dian)(dian)路性质上看，无(wu)源器(qi)件(jian)有(you)(you)两个基本特点：
（1） 自身不(bu)消耗电能(neng)，或把电能(neng)转变为不(bu)同形式的其他能(neng)量。
（2） 只需输入(ru)信(xin)号，不(bu)需要外加电源就能正常工作(zuo)。
IC和芯片的区别:
IC是(shi)指(zhi)集成电路全(quan)写是(shi)integrated circuit，人们利用微电子技术制成了集成电路,集成电路分为小规模、中规模、大规模、超大规模的集成电路,在几平方厘米的面积上,包含(han)了几十(shi)个至几千万个电子管、晶(jing)体(ti)管以及其它的器件,芯片(pian)是指基(ji)于集成电路(lu)技(ji)术(shu)制成的器件.
是指用(yong)集(ji)成(cheng)电路(lu)制(zhi)成(cheng)的(de)(de)(de)处理器(qi)(qi).如(ru)中央处理器(qi)(qi)CPU,就是一个(ge)超大规(gui)(gui)模的(de)(de)(de)集(ji)成(cheng)电路(lu).影(ying)碟机(ji)里(li)的(de)(de)(de)各种光碟的(de)(de)(de)解码器(qi)(qi)也是芯(xin)(xin)片,收(shou)音机(ji)里(li)的(de)(de)(de)将无线电变成(cheng)音频信(xin)号的(de)(de)(de)器(qi)(qi)件也可称(cheng)为芯(xin)(xin)片,掌机(ji)游(you)戏里(li)的(de)(de)(de)卡(ka)带也有(you)芯(xin)(xin)片,IC卡(ka)、SIM卡(ka)都(dou)有(you)芯(xin)(xin)片.我们身(shen)边的(de)(de)(de)电器(qi)(qi)几乎都(dou)有(you)芯(xin)(xin)片,只有(you)规(gui)(gui)模大小的(de)(de)(de)区别(bie)。
电子(zi)元器件(jian)系统中的无源器件(jian)可(ke)以按照所担当的电路功能分为电路类器件(jian)、连(lian)接类器件(jian).
1． 电路类器件
(1) 二极管(guan)(diode)
(2) 电阻(zu)器(qi)(resistor)
(3) 电阻排(resistor network)
(4) 电容器(capacitor)
(5) 电(dian)感(inductor)
(6) 变压器(transformer)
(7) 继电(dian)器(relay)
(8) 按键(key)
(9) 蜂鸣器、喇(la)叭(ba)(speaker)
(10) 开(kai)关(switch)
2． 连接类器件
(1) 连接器(connector)
(2) 插座(shoket)
(3) 连接电缆(line)
(4) 印刷电路板(PCB)
电子元器件-常见的有源电子器件:
有(you)(you)源器(qi)件(jian)是(shi)电子(zi)电路(lu)(lu)的主要器(qi)件(jian),从物理结(jie)构、电路(lu)(lu)功能和(he)工(gong)程参(can)数(shu)上,有(you)(you)源器(qi)件(jian)可以分(fen)为分(fen)立器(qi)件(jian)和(he)集成电路(lu)(lu)两大类。
1． 分立器件
(1) 双极型晶(jing)体三(san)极管(bipolar transistor),一般简(jian)称三(san)极管,BJT
(2) 场效(xiao)应晶体管(field effective transistor)
(3) 晶闸管(guan)(thyristor),也叫(jiao)可(ke)控硅
(4) 半导(dao)体电阻与电容(rong)——用集成(cheng)技术制造的电阻和电容(rong),用于集成(cheng)电路中.
2． 模拟集成电路器件
模拟集(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)路(lu)器件是用来处(chu)理随时间(jian)连(lian)续变(bian)化(hua)的模拟电(dian)(dian)压或电(dian)(dian)流信号的集(ji)成(cheng)(cheng)电(dian)(dian)路(lu)器件.
基(ji)本模(mo)拟集成(cheng)电路器件(jian)一般(ban)包括:
(1) 集成运(yun)算放(fang)(fang)大器(operation amplifier),简称(cheng)集成运(yun)放(fang)(fang)
(2) 比较器(comparator)
(3) 对数和指数放大(da)器
(4) 模拟(ni)乘/除法器(multiplier/divider)
(5) 模拟开(kai)关电路(analog switch)
(6) PLL电路(phase lock loop),即锁相环电路
(7) 集成(cheng)稳(wen)压器(qi)(voltage regulator)
(8) 参考电(dian)源(yuan)(reference source)
(9) 波(bo)形发(fa)生(sheng)器(qi)(wave-form generator)
(10) 功率放大器(power amplifier)
3． 数字集成电路器件
(1) 基本逻辑门(logic gate circuit)
(2) 触发器(qi)(flip-flop)
(3) 寄存器(register)
(4) 译码器(qi)(decoder)
(5) 数据比较(jiao)器(comparator)
(6) 驱动器(driver)
(7) 计数器(qi)(counter)
(8) 整形电路
(9) 可(ke)编程逻辑器件(PLD)
(10) 微处(chu)理器(microprocessor,MPU)
(11) 单片机(Microcontroller,MCU)
(12) DSP器件(Digital signal processor,DSP）
电(dian)(dian)子(zi)元器包含(han)很多(duo)，所以在这里(li)先给大(da)家(jia)推荐一本《电(dian)(dian)子(zi)元器件(jian)(jian)检(jian)测》，本书(shu)的(de)内(nei)容(rong)主要介绍的(de)是(shi)各种电(dian)(dian)子(zi)元器件(jian)(jian)的(de)检(jian)测方法(fa)，书(shu)中(zhong)列(lie)举了很多(duo)常(chang)见电(dian)(dian)子(zi)元器件(jian)(jian)的(de)使用和检(jian)测方法(fa)。此(ci)(ci)书(shu)给从事(shi)此(ci)(ci)方面(mian)工作的(de)广大(da)劳(lao)动(dong)者提供了很好的(de)指导和建议，下图有作者、编码、封面(mian)，希(xi)望(wang)对大(da)家(jia)有帮(bang)助。
下面就(jiu)简单的介绍一些常见(jian)电(dian)子元器件检测经验和技(ji)巧。
1．测整流电桥各脚的极性
万(wan)用表置R×1k挡(dang)，黑(hei)(hei)表笔(bi)接桥(qiao)(qiao)(qiao)堆的(de)任意引脚(jiao)，红表笔(bi)先后测其余三只脚(jiao)，如果(guo)读数均(jun)为(wei)无穷大，则(ze)黑(hei)(hei)表笔(bi)所(suo)接为(wei)桥(qiao)(qiao)(qiao)堆的(de)输出正极，如果(guo)读数为(wei)4～10kΩ，则(ze)黑(hei)(hei)表笔(bi)所(suo)接引脚(jiao)为(wei)桥(qiao)(qiao)(qiao)堆的(de)输出负极，其余的(de)两(liang)引脚(jiao)为(wei)桥(qiao)(qiao)(qiao)堆的(de)交流输入端。
2．判断晶振的好坏
先用万(wan)用表(R×10k挡)测晶(jing)(jing)振(zhen)两端(duan)的(de)电(dian)(dian)阻值，若(ruo)为(wei)无(wu)穷大，说(shuo)明晶(jing)(jing)振(zhen)无(wu)短路或漏电(dian)(dian)；再将试(shi)(shi)电(dian)(dian)笔(bi)插(cha)入市电(dian)(dian)插(cha)孔内(nei)，用手指捏住晶(jing)(jing)振(zhen)的(de)任一引(yin)脚，将另一引(yin)脚碰触试(shi)(shi)电(dian)(dian)笔(bi)顶端(duan)的(de)金属部分，若(ruo)试(shi)(shi)电(dian)(dian)笔(bi)氖(nai)泡发红(hong)，说(shuo)明晶(jing)(jing)振(zhen)是好的(de)；若(ruo)氖(nai)泡不亮，则说(shuo)明晶(jing)(jing)振(zhen)损坏。
3．单向晶闸管检测
可用(yong)万用(yong)表(biao)的(de)(de)R×1k或(huo)R×100挡测(ce)量(liang)(liang)任意(yi)两极(ji)之(zhi)(zhi)(zhi)问的(de)(de)正(zheng)、反(fan)(fan)向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)，如果找到一对极(ji)的(de)(de)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)为低阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(100Ω～lkΩ)，则此时黑(hei)表(biao)笔(bi)所(suo)接的(de)(de)为控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)极(ji)，红表(biao)笔(bi)所(suo)接为阴(yin)(yin)极(ji)，另(ling)一个极(ji)为阳(yang)极(ji)。晶闸管共有3个PN结，我们可以通过测(ce)量(liang)(liang)PN结正(zheng)、反(fan)(fan)向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)(de)大小(xiao)来判别(bie)它(ta)的(de)(de)好坏。测(ce)量(liang)(liang)控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)极(ji)(G)与阴(yin)(yin)极(ji)[C)之(zhi)(zhi)(zhi)间(jian)的(de)(de)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)时，如果正(zheng)、反(fan)(fan)向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)均(jun)为零或(huo)无(wu)穷大，表(biao)明控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)极(ji)短路或(huo)断路；测(ce)量(liang)(liang)控(kong)(kong)制(zhi)(zhi)极(ji)(G)与阳(yang)极(ji)(A)之(zhi)(zhi)(zhi)间(jian)的(de)(de)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)时，正(zheng)、反(fan)(fan)向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)读数均(jun)应很(hen)大；测(ce)量(liang)(liang)阳(yang)极(ji)(A)与阴(yin)(yin)极(ji)(C)之(zhi)(zhi)(zhi)间(jian)的(de)(de)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)时，正(zheng)、反(fan)(fan)向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)都应很(hen)大。
4．双向晶闸管的极性识别
双(shuang)向(xiang)晶闸(zha)管有主电(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)1、主电(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)2和(he)控(kong)制(zhi)极(ji)(ji)(ji)(ji)，如果(guo)用(yong)万用(yong)表R×1k挡测量(liang)两(liang)个主电(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)之(zhi)(zhi)间的电(dian)阻(zu)(zu)，读数应近似无穷(qiong)大，而控(kong)制(zhi)极(ji)(ji)(ji)(ji)与(yu)任一个主电(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)之(zhi)(zhi)间的正、反向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)读数只有几十欧。根据这一特性，我(wo)们很容易通过测量(liang)电(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)之(zhi)(zhi)间电(dian)阻(zu)(zu)大小(xiao)，识(shi)(shi)别出双(shuang)向(xiang)晶闸(zha)管的控(kong)制(zhi)极(ji)(ji)(ji)(ji)。而当(dang)黑表笔(bi)接主电(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)1。红表笔(bi)接控(kong)制(zhi)极(ji)(ji)(ji)(ji)时所测得(de)的正向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)总是要比反向(xiang)电(dian)阻(zu)(zu)小(xiao)一些，据此我(wo)们也很容易通过测量(liang)电(dian)阻(zu)(zu)大小(xiao)来识(shi)(shi)别主电(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)1和(he)主电(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)2。
5．检查发光数码管的好坏
先将万用表置R×10k或R×l00k挡，然(ran)后(hou)将红(hong)表笔与数码管(以共阴数码管为例)的“地”引出(chu)(chu)端相连(lian)，黑(hei)表笔依次(ci)接数码管其(qi)他引出(chu)(chu)端，七段均(jun)应分别发(fa)光，否则说明(ming)数码管损坏(huai)。
6．判别结型场效应管的电极
将万(wan)用(yong)表置于(yu)R×1k挡，用(yong)黑表笔(bi)(bi)接(jie)触假(jia)定为(wei)栅极G的(de)管(guan)脚，然后(hou)用(yong)红表笔(bi)(bi)分别(bie)接(jie)触另外(wai)两个管(guan)脚，若(ruo)阻值均比较小(5～10 Ω)，再将红、黑表笔(bi)(bi)交(jiao)换测量一次。如阻值均大(∞)，说明都是(shi)反向(xiang)(xiang)电(dian)阻(PN结反向(xiang)(xiang))，属(shu)N沟道管(guan)，且黑表笔(bi)(bi)接(jie)触的(de)管(guan)脚为(wei)栅极G，并说明原先假(jia)定是(shi)正(zheng)确的(de)。若(ruo)再次测量的(de)阻值均很小，说明是(shi)正(zheng)向(xiang)(xiang)电(dian)阻，属(shu)于(yu)P沟道场效应管(guan)，黑表笔(bi)(bi)所接(jie)的(de)也是(shi)栅极G。
若不出现上述情况，可以(yi)(yi)调换(huan)红、黑(hei)表笔，按上述方法进行测试，直至判断出栅极(ji)(ji)为(wei)止(zhi)。一般结型场效应(ying)管的(de)源极(ji)(ji)与漏极(ji)(ji)在(zai)制造时是对称的(de)，所以(yi)(yi)，当栅极(ji)(ji)G确定以(yi)(yi)后，对于源极(ji)(ji)S、漏极(ji)(ji)D不一定要(yao)判别，因为(wei)这两个极(ji)(ji)可以(yi)(yi)互(hu)换(huan)使用。源极(ji)(ji)与漏极(ji)(ji)之间的(de)电(dian)阻(zu)为(wei)几千欧。
7．三极管电极的判别
对于一只型(xing)号标示不清或无标志的(de)(de)三极(ji)(ji)管，要想分辨出它们的(de)(de)三个电极(ji)(ji)，也可用万(wan)用表测试。先将万(wan)用表量程开关拨在R×100或R×1k电阻(zu)挡上。红(hong)表笔(bi)(bi)任意接(jie)(jie)触(chu)(chu)三极(ji)(ji)管的(de)(de)一个电极(ji)(ji)，黑(hei)表笔(bi)(bi)依次接(jie)(jie)触(chu)(chu)另外两(liang)个电极(ji)(ji)，分别测量它们之间的(de)(de)电阻(zu)值(zhi)，若(ruo)测出均为几(ji)百欧(ou)低(di)电阻(zu)时(shi)，则(ze)(ze)红(hong)表笔(bi)(bi)接(jie)(jie)触(chu)(chu)的(de)(de)电极(ji)(ji)为基极(ji)(ji)b，此(ci)管为PNP管。若(ruo)测出均为几(ji)十至上百千欧(ou)的(de)(de)高电阻(zu)时(shi)，则(ze)(ze)红(hong)表笔(bi)(bi)接(jie)(jie)触(chu)(chu)的(de)(de)电极(ji)(ji)也为基极(ji)(ji)b，此(ci)管为NPN管。
在(zai)判别出(chu)管(guan)型和基(ji)极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)b的基(ji)础(chu)上(shang)，利用(yong)三极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)管(guan)正向(xiang)电(dian)(dian)(dian)流放大(da)系数比反(fan)向(xiang)电(dian)(dian)(dian)流放大(da)系数大(da)的原理确(que)定(ding)集(ji)(ji)电(dian)(dian)(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)。任(ren)意假定(ding)一(yi)个电(dian)(dian)(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)为(wei)c极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)，另一(yi)个电(dian)(dian)(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)为(wei)e极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)。将万用(yong)表(biao)量(liang)程开关拨在(zai)R×1k电(dian)(dian)(dian)阻(zu)挡上(shang)。对(dui)于：PNP管(guan)，令红表(biao)笔(bi)接(jie)c极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)，黑(hei)表(biao)笔(bi)接(jie)e极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)，再用(yong)手同(tong)时(shi)捏一(yi)下管(guan)子的b、c极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)，但不能使b、c两(liang)极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)直接(jie)相碰，测(ce)出(chu)某(mou)一(yi)阻(zu)值。然(ran)后两(liang)表(biao)笔(bi)对(dui)调进行第二次(ci)测(ce)量(liang)，将两(liang)次(ci)测(ce)的电(dian)(dian)(dian)阻(zu)相比较，对(dui)于：PNP型管(guan)，阻(zu)值小(xiao)的一(yi)次(ci)，红表(biao)笔(bi)所接(jie)的电(dian)(dian)(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)为(wei)集(ji)(ji)电(dian)(dian)(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)。对(dui)于NPN型管(guan)阻(zu)值小(xiao)的一(yi)次(ci)，黑(hei)表(biao)笔(bi)所接(jie)的电(dian)(dian)(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)为(wei)集(ji)(ji)电(dian)(dian)(dian)极(ji)(ji)(ji)(ji)(ji)。
8．电位器的好坏判别
先测(ce)(ce)电(dian)(dian)(dian)位(wei)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)标称阻(zu)(zu)值(zhi)。用万(wan)用表的(de)(de)(de)(de)(de)欧姆(mu)挡测(ce)(ce)“1”、“3”两(liang)端(duan)(设“2”端(duan)为活动(dong)(dong)触(chu)点)，其读数应为电(dian)(dian)(dian)位(wei)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)标称值(zhi)，如万(wan)用表的(de)(de)(de)(de)(de)指针(zhen)不动(dong)(dong)、阻(zu)(zu)值(zhi)不动(dong)(dong)或阻(zu)(zu)值(zhi)相(xiang)差很多，则表明该电(dian)(dian)(dian)位(wei)器(qi)(qi)已损坏。再(zai)检查电(dian)(dian)(dian)位(wei)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)活动(dong)(dong)臂与(yu)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)片的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)触(chu)是(shi)否良(liang)好。用万(wan)用表的(de)(de)(de)(de)(de)欧姆(mu)挡测(ce)(ce)“1”、“2”或“2”、“3”两(liang)端(duan)，将电(dian)(dian)(dian)位(wei)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)转轴按逆(ni)时(shi)(shi)针(zhen)方向旋(xuan)(xuan)至接(jie)近“关”的(de)(de)(de)(de)(de)位(wei)置(zhi)，此时(shi)(shi)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)应越小越好，再(zai)徐徐顺(shun)时(shi)(shi)钟旋(xuan)(xuan)转轴柄，电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)应逐渐增大，旋(xuan)(xuan)至极端(duan)位(wei)置(zhi)时(shi)(shi)，阻(zu)(zu)值(zhi)应接(jie)近电(dian)(dian)(dian)位(wei)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)标称值(zhi)。如在电(dian)(dian)(dian)位(wei)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)轴柄转动(dong)(dong)过(guo)程中万(wan)用表指针(zhen)有跳动(dong)(dong)瑚(hu)象(xiang)，描踢活动(dong)(dong)触(chu)』点接(jie)触(chu)不良(liang)。
9．测量大容量电容的漏电电阻
用500型万(wan)用表(biao)置于R×10或R×100挡，待指针(zhen)指向最大值时，再(zai)立即改(gai)用R×1k挡测(ce)量，指针(zhen)会在较短时间内(nei)稳定，从而读出漏(lou)电(dian)电(dian)阻阻值。
10．判别红外接收头引脚
万用(yong)表置R×1k挡(dang)，先假设(she)接(jie)收(shou)头的某脚为接(jie)地端，将其与黑表笔(bi)相(xiang)接(jie)，用(yong)红(hong)表笔(bi)分别测(ce)量(liang)另两脚电(dian)阻(zu)，对(dui)比两次所测(ce)阻(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)(一般在4～7k Q范围)，电(dian)阻(zu)较(jiao)小的一次其红(hong)表笔(bi)所接(jie)为+5V电(dian)源引(yin)(yin)脚，另一阻(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)较(jiao)大(da)的则(ze)为信(xin)(xin)号引(yin)(yin)脚。反之，若(ruo)用(yong)红(hong)表笔(bi)接(jie)已(yi)知地脚，黑表笔(bi)分别测(ce)已(yi)知电(dian)源脚及信(xin)(xin)号脚，则(ze)阻(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)都在15kΩ以(yi)上，阻(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)小的引(yin)(yin)脚为+5V端，阻(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)偏大(da)的引(yin)(yin)脚为信(xin)(xin)号端。如果(guo)测(ce)量(liang)结果(guo)符合上述阻(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)则(ze)可判断该接(jie)收(shou)头完好(hao)。
11．判断无符号电解电容极性
先将(jiang)电容短(duan)路放(fang)电，再(zai)将(jiang)两引(yin)(yin)(yin)线(xian)(xian)做好A、B标(biao)记，万用表(biao)置R×100或R×1k挡，黑(hei)表(biao)笔(bi)接(jie)A引(yin)(yin)(yin)线(xian)(xian)，红(hong)(hong)表(biao)笔(bi)接(jie)B引(yin)(yin)(yin)线(xian)(xian)，待(dai)指针(zhen)静止不动(dong)后读数(shu)，测完后短(duan)路放(fang)电；再(zai)将(jiang)黑(hei)表(biao)笔(bi)接(jie)B引(yin)(yin)(yin)线(xian)(xian)，红(hong)(hong)表(biao)笔(bi)接(jie)A引(yin)(yin)(yin)线(xian)(xian)，比(bi)较两次(ci)读数(shu)，阻值较大的一次(ci)黑(hei)表(biao)笔(bi)所接(jie)为(wei)正(zheng)极，红(hong)(hong)表(biao)笔(bi)所接(jie)为(wei)负极。
12．测发光二极管
取一个(ge)容(rong)(rong)(rong)量(liang)大于(yu)100“F的(de)电解(jie)电容(rong)(rong)(rong)器(容(rong)(rong)(rong)量(liang)越大，现象(xiang)越明(ming)显)，先用(yong)万用(yong)表R×100挡对其(qi)充电，黑表笔(bi)接电容(rong)(rong)(rong)正(zheng)极(ji)(ji)(ji)，红(hong)表笔(bi)接负(fu)极(ji)(ji)(ji)，充电完毕后，黑表笔(bi)改(gai)接电容(rong)(rong)(rong)负(fu)极(ji)(ji)(ji)，将被测发(fa)光(guang)二(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)接于(yu)红(hong)表笔(bi)和电容(rong)(rong)(rong)正(zheng)极(ji)(ji)(ji)之(zhi)间。如(ru)(ru)果(guo)发(fa)光(guang)二(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)亮(liang)(liang)后逐(zhu)渐熄灭，表明(ming)它是(shi)(shi)好(hao)的(de)。此时红(hong)表笔(bi)接的(de)是(shi)(shi)发(fa)光(guang)二(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)的(de)负(fu)极(ji)(ji)(ji)，电容(rong)(rong)(rong)正(zheng)极(ji)(ji)(ji)接的(de)是(shi)(shi)发(fa)光(guang)二(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)的(de)正(zheng)极(ji)(ji)(ji)。如(ru)(ru)果(guo)发(fa)光(guang)二(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)不亮(liang)(liang)，将其(qi)两端对调重新接上测试，还不亮(liang)(liang)，表明(ming)发(fa)光(guang)二(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)(guan)已损(sun)坏。
13. 光电耦合器检测
万用表(biao)(biao)选(xuan)(xuan)用电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)R×100挡，不得选(xuan)(xuan)R×10k挡，以防电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)压过高击穿发(fa)(fa)光(guang)(guang)二极管(guan)(guan)。红(hong)、黑(hei)(hei)表(biao)(biao)笔接输(shu)入端(duan)，测(ce)(ce)(ce)正(zheng)(zheng)、反向(xiang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)，正(zheng)(zheng)常时(shi)(shi)正(zheng)(zheng)向(xiang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)为数十(shi)欧(ou)(ou)(ou)(ou)姆，反向(xiang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)几(ji)千(qian)欧(ou)(ou)(ou)(ou)至几(ji)十(shi)千(qian)欧(ou)(ou)(ou)(ou)。若正(zheng)(zheng)、反向(xiang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)相近(jin)，表(biao)(biao)明发(fa)(fa)光(guang)(guang)二极管(guan)(guan)已损(sun)坏。万用表(biao)(biao)选(xuan)(xuan)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)R×1挡。红(hong)、黑(hei)(hei)表(biao)(biao)笔接输(shu)出(chu)(chu)端(duan)，测(ce)(ce)(ce)正(zheng)(zheng)、反向(xiang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)，正(zheng)(zheng)常时(shi)(shi)均接近(jin)于∞，否则受光(guang)(guang)管(guan)(guan)损(sun)坏。万用表(biao)(biao)选(xuan)(xuan)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)R×10挡，红(hong)、黑(hei)(hei)表(biao)(biao)笔分(fen)别接输(shu)入、输(shu)出(chu)(chu)端(duan)测(ce)(ce)(ce)发(fa)(fa)光(guang)(guang)管(guan)(guan)与受光(guang)(guang)管(guan)(guan)之(zhi)间的绝(jue)(jue)(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(有条件应(ying)用兆(zhao)欧(ou)(ou)(ou)(ou)表(biao)(biao)测(ce)(ce)(ce)其绝(jue)(jue)(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)，此(ci)时(shi)(shi)兆(zhao)欧(ou)(ou)(ou)(ou)表(biao)(biao)输(shu)出(chu)(chu)额(e)定(ding)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)压应(ying)略低于被测(ce)(ce)(ce)光(guang)(guang)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)耦合器(qi)所允许的耐压值)，发(fa)(fa)光(guang)(guang)管(guan)(guan)与受光(guang)(guang)管(guan)(guan)问绝(jue)(jue)(jue)缘(yuan)电(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)正(zheng)(zheng)常应(ying)为∞。
14．光敏电阻的检测
检测(ce)(ce)时将万用(yong)表拨到(dao)R×1kΩ挡，把光敏(min)电阻(zu)的受光面与(yu)入射光线保持垂直，于(yu)是(shi)在万用(yong)表上直接测(ce)(ce)得的电阻(zu)就是(shi)亮(liang)阻(zu)。再把光敏(min)电阻(zu)置于(yu)完(wan)全(quan)黑暗(an)的场所，这(zhei)时万用(yong)表所测(ce)(ce)出(chu)的电阻(zu)就是(shi)暗(an)阻(zu)。如果亮(liang)阻(zu)为几千(qian)欧至几十干欧，暗(an)阻(zu)为几至几十兆欧，说(shuo)明光敏(min)电阻(zu)是(shi)好的。
15．激光二极管损坏判别
拆下(xia)激光二(er)极(ji)管(guan)，测量其(qi)阻(zu)值，正常情况(kuang)下(xia)反(fan)向(xiang)阻(zu)值应为无穷大(da)，正向(xiang)阻(zu)值在20kΩ～40kΩ。如果所测的正向(xiang)阻(zu)值已(yi)(yi)超(chao)过50kΩ，说明(ming)激光二(er)极(ji)管(guan)性能已(yi)(yi)下(xia)降；如果其(qi)正向(xiang)阻(zu)值已(yi)(yi)超(chao)过90kΩ，说明(ming)该管(guan)已(yi)(yi)损坏(huai)，不(bu)能再使用(yong)了。
一、交直流电流的测量
根据测量(liang)(liang)电(dian)(dian)流(liu)的(de)(de)大(da)小(xiao)(xiao)选择(ze)适(shi)当的(de)(de)电(dian)(dian)流(liu)测量(liang)(liang)量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)和红(hong)(hong)表笔(bi)(bi)的(de)(de)插(cha)入“A”电(dian)(dian)流(liu)插(cha)孔，测量(liang)(liang)直流(liu)时，红(hong)(hong)表笔(bi)(bi)（插(cha)入电(dian)(dian)流(liu)插(cha)孔中）接触(chu)电(dian)(dian)压高一(yi)端，黑(hei)表笔(bi)(bi)接触(chu)电(dian)(dian)压低的(de)(de)一(yi)端，正(zheng)向电(dian)(dian)流(liu)从红(hong)(hong)表笔(bi)(bi)流(liu)入万(wan)用(yong)表，再从黑(hei)表笔(bi)(bi)流(liu)出，当要测量(liang)(liang)的(de)(de)电(dian)(dian)流(liu)大(da)小(xiao)(xiao)不清楚的(de)(de)时候，先用(yong)最大(da)的(de)(de)量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)来测量(liang)(liang)，然后再逐(zhu)渐减小(xiao)(xiao)量(liang)(liang)程(cheng)(cheng)来精确(que)测量(liang)(liang)。
二、交直流电压的测量
红(hong)(hong)表(biao)笔插入(ru)“V/Ω”插孔中(zhong)，根据电(dian)(dian)压的大(da)小选择适当的电(dian)(dian)压测量量程，黑表(biao)笔接触电(dian)(dian)路(lu)(lu)“地(di)”端，红(hong)(hong)表(biao)笔接触电(dian)(dian)路(lu)(lu)中(zhong)待测点。特别(bie)要注意，数(shu)字万用表(biao)测量交流电(dian)(dian)压的频(pin)率很低（45～500Hz），中(zhong)高频(pin)率信号的电(dian)(dian)压幅(fu)度(du)应(ying)采用交流毫伏表(biao)来测量。
三、电阻的测量
电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)(de)测(ce)(ce)量(liang)比较(jiao)简单红表(biao)(biao)笔(bi)(bi)插(cha)入“V/Ω”插(cha)孔中，黑(hei)表(biao)(biao)笔(bi)(bi)插(cha)入"com"插(cha)孔，根据电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)(de)大小选择(ze)适(shi)当的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)档(dang)(dang)，红、黑(hei)两(liang)表(biao)(biao)笔(bi)(bi)分(fen)别接触电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)两(liang)端，观察读数即可。特别是(shi)，测(ce)(ce)量(liang)在(zai)路(lu)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)时(shi)（在(zai)电(dian)(dian)(dian)路(lu)板上(shang)的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)），应(ying)先(xian)把(ba)电(dian)(dian)(dian)路(lu)的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)源(yuan)关断(duan)，以免引起读数抖动。禁止用电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)档(dang)(dang)测(ce)(ce)量(liang)电(dian)(dian)(dian)流或电(dian)(dian)(dian)压（特别是(shi)交流220V电(dian)(dian)(dian)压），否(fou)则容易损坏万用表(biao)(biao)。在(zai)路(lu)检(jian)测(ce)(ce)时(shi)注(zhu)意电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)不能有(you)并(bing)联支路(lu)。电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)档(dang)(dang)选的(de)(de)比较(jiao)大时(shi)（比如测(ce)(ce)量(liang)10M的(de)(de)电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)）应(ying)先(xian)将(jiang)两(liang)支表(biao)(biao)笔(bi)(bi)短路(lu)，显(xian)示的(de)(de)值(zhi)(zhi)可能为1M。每次测(ce)(ce)量(liang)完毕(bi)需把(ba)测(ce)(ce)量(liang)结果减去(qu)此值(zhi)(zhi)，才是(shi)实(shi)际电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(电(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)档(dang)(dang)高时(shi)，误差(cha)会比较(jiao)大)。
四、短开路检测
将功能(neng)、量程开关转到蜂鸣档位置，两(liang)表笔分(fen)别测(ce)试点(dian)，若有短(duan)路(lu)，则蜂鸣器(qi)(qi)会响。用此方(fang)法可以(yi)检测(ce)电路(lu)线路(lu)的通(tong)断情况(kuang)。注(zhu)意：蜂鸣器(qi)(qi)响并不一定(ding)表示(shi)两(liang)点(dian)间线路(lu)短(duan)路(lu)，若两(liang)点(dian)间电阻比较小（20Ω）也会响。
五、数字万用表电容检测方法
检(jian)测电(dian)(dian)容有专用(yong)的电(dian)(dian)容表(biao)来测量电(dian)(dian)容容量，也可用(yong)万用(yong)表(biao)测量。如下(xia)图所示
某(mou)些数字万(wan)用(yong)表(biao)具有(you)测量(liang)电容(rong)的(de)(de)功(gong)用(yong)，UT51其(qi)量(liang)程(cheng)分(fen)为(wei)200μ和20μ两档(dang)。测量(liang)时先将红表(biao)笔(bi)接(jie)到(dao)电流端(duan)孔(kong)，黑(hei)表(biao)笔(bi)接(jie)到(dao)COM端(duan)孔(kong)，功(gong)能档(dang)位选(xuan)择电容(rong)档(dang)位，再用(yong)红黑(hei)表(biao)笔(bi)接(jie)已放电的(de)(de)电容(rong)两引脚(jiao)（注意极(ji)性(xing)），选(xuan)取适当的(de)(de)量(liang)程(cheng)后就可读取显示(shi)数据。200μ档(dang)，宜于测量(liang)20uF至(zhi)200μF之间(jian)的(de)(de)电容(rong)；20μ档(dang)，宜于测量(liang)2μF至(zhi)20μF之间(jian)的(de)(de)电容(rong)。
六、电感器的检测
将(jiang)万用表置于(yu)电阻档，红(hong)、黑表笔各接(jie)色码电感器的任一引出(chu)端，此时指针应向右摆动。根(gen)据测出(chu)的电阻值大小，可具体分(fen)下述(shu)三种(zhong)情况(kuang)进行鉴别：
1、被(bei)测色码电感(gan)器电阻值(zhi)为零，其内部有短路性(xing)故障。
2、被测色码(ma)电(dian)感器(qi)直流电(dian)阻(zu)值(zhi)的(de)大小与绕制电(dian)感器(qi)线(xian)圈(quan)所用的(de)漆包线(xian)径、绕制圈(quan)数有直接关系，只要(yao)能测出(chu)电(dian)阻(zu)值(zhi)，则可(ke)认为被测色码(ma)电(dian)感器(qi)是正常的(de)。
七、二极管的正反向电阻，压降和好坏的判断
首(shou)先要(yao)强调的是(shi)用(yong)数字万(wan)(wan)用(yong)表测量二(er)(er)(er)(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)时，实测的是(shi)二(er)(er)(er)(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)的正向(xiang)电(dian)压(ya)值(zhi)，而指针(zhen)式万(wan)(wan)用(yong)表则测的是(shi)二(er)(er)(er)(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)正反向(xiang)电(dian)阻的值(zhi)。二(er)(er)(er)(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)有(you)锗管(guan)和硅(gui)管(guan)之(zhi)分。锗管(guan)正向(xiang)压(ya)降比(bi)硅(gui)管(guan)小，0.1-0.3V为锗二(er)(er)(er)(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)，0.5-0.8V则为硅(gui)二(er)(er)(er)(er)极(ji)(ji)(ji)管(guan)。
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