快恢复(fu)二极管的测量

快(kuai)恢(hui)复(fu)(fu)(fu)二(er)(er)极管(guan)(guan)属于整流(liu)二(er)(er)极管(guan)(guan)中的高(gao)频二(er)(er)极管(guan)(guan)，特(te)(te)点是(shi)它的反(fan)向(xiang)恢(hui)复(fu)(fu)(fu)时间很短，这一点特(te)(te)别适合高(gao)频率(lv)整流(liu)。快(kuai)恢(hui)复(fu)(fu)(fu)二(er)(er)极管(guan)(guan)的反(fan)向(xiang)恢(hui)复(fu)(fu)(fu)时间是(shi)其性能的重要参数，反(fan)向(xiang)恢(hui)复(fu)(fu)(fu)时间的定义(yi)是(shi)：二(er)(er)极管(guan)(guan)从(cong)(cong)正向(xiang)导(dao)通状(zhuang)态急剧(ju)转换到截止状(zhuang)态，从(cong)(cong)输出脉冲(chong)下降到零线开始，到反(fan)向(xiang)电源恢(hui)复(fu)(fu)(fu)到最大反(fan)向(xiang)电流(liu)的10％所需要的时间。常用(yong)符号trr表示(shi)，trr值越小的快(kuai)恢(hui)复(fu)(fu)(fu)二(er)(er)极管(guan)(guan)工(gong)作频率(lv)越高(gao)。因为导(dao)通和截止转换迅(xun)速，从(cong)(cong)而可以改善(shan)整流(liu)波形(xing)。

快(kuai)恢(hui)(hui)复(fu)二(er)(er)极管(guan)(guan)的内部(bu)结构(gou)与普通二(er)(er)极管(guan)(guan)不同，普通整流(liu)二(er)(er)极管(guan)(guan)是一个PN结，而快(kuai)恢(hui)(hui)复(fu)二(er)(er)极管(guan)(guan)PN结中间(jian)(jian)增(zeng)加(jia)了基区I，构(gou)成(cheng)PIN硅片。由于基区很薄(bo)，反(fan)(fan)(fan)向(xiang)恢(hui)(hui)复(fu)电荷(he)很小，所(suo)以快(kuai)恢(hui)(hui)复(fu)二(er)(er)极管(guan)(guan)的反(fan)(fan)(fan)向(xiang)恢(hui)(hui)复(fu)时间(jian)(jian)较短(duan)。从(cong)电物理现(xian)象来解释，导通状态(tai)向(xiang)截止状态(tai)转变时，二(er)(er)极管(guan)(guan)在阻断反(fan)(fan)(fan)向(xiang)电流(liu)之前需要(yao)首(shou)先释放上个周期存(cun)储(chu)的电荷(he)，这个放电时间(jian)(jian)被称(cheng)为反(fan)(fan)(fan)向(xiang)恢(hui)(hui)复(fu)时间(jian)(jian)，反(fan)(fan)(fan)向(xiang)恢(hui)(hui)复(fu)时间(jian)(jian)实际上是由电荷(he)存(cun)储(chu)效应引起的．反(fan)(fan)(fan)向(xiang)恢(hui)(hui)复(fu)时间(jian)(jian)就是存(cun)储(chu)电荷(he)耗尽所(suo)需要(yao)的时间(jian)(jian)。

在(zai)业余条件下，利(li)用万(wan)用表能(neng)检测快(kuai)(kuai)恢复、超快(kuai)(kuai)恢复二极管的(de)单向(xiang)导(dao)电(dian)性，以及内部有无开(kai)路、短路故障(zhang)，并能(neng)测出正向(xiang)导(dao)通压降。若配(pei)以兆(zhao)欧(ou)表，还能(neng)测量反(fan)向(xiang)击穿电(dian)压。

将万用表(biao)置于Rx1k挡，测快恢(hui)复二极管(guan)(guan)的(de)正、反(fan)向(xiang)电阻，正向(xiang)电阻一般为(wei)(wei)几(ji)欧(ou)姆，反(fan)向(xiang)电阻为(wei)(wei)∞，如果测得(de)的(de)阻值均为(wei)(wei)∞或(huo)为(wei)(wei)0，则表(biao)明(ming)被测管(guan)(guan)子损坏。 快恢(hui)复二极管(guan)(guan)的(de)对(dui)管(guan)(guan)检测方法与上(shang)述(shu)方法基本(ben)相同(tong)，但必须(xu)首先确(que)定其共用端(duan)是哪个引脚，然后再用上(shang)述(shu)方法对(dui)各(ge)个快恢(hui)复二极管(guan)(guan)进行检测。

实例：测(ce)量(liang)一(yi)只C90-02超快恢复二极(ji)管，其主要参数为：trr=35ns，Id=5A，IFSM=50A，VRM=700V。外(wai)型同图(a)。将500型万用表拨至(zhi)R×1档，读出正向(xiang)电阻为6.4Ω，n′=19.5格；反向(xiang)电阻则为无穷大。进一(yi)步求得VF=0.03V/格×19.5=0.585V。证明(ming)管子是(shi)好的。

使用注(zhu)意事项

1）有(you)些单管，共三个引脚，中间的(de)为空脚，一般在出厂时剪掉，但也有(you)不剪的(de)。

2）若对管(guan)中有一只管(guan)子损坏，则可作为单管(guan)使用。

3）测(ce)(ce)正向(xiang)导通压降(jiang)时(shi)，必须使用R×1档(dang)。若用R×1k档(dang)，因测(ce)(ce)试电(dian)(dian)流太(tai)小，远低于管子的(de)(de)正常工(gong)作(zuo)电(dian)(dian)流，故测(ce)(ce)出的(de)(de)VF值将明显偏低。在(zai)上面(mian)例子中(zhong)，如果选(xuan)择R×1k档(dang)测(ce)(ce)量，正向(xiang)电(dian)(dian)阻就等于2.2kΩ，此时(shi)n′=9格(ge)。由(you)此计算(suan)出的(de)(de)VF值仅0.27V，远低于正常值(0.6V)。

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