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mos管器件(jian)失效到底(di)什么原因(yin)制成的(de),看看专业员是怎么说的(de)

信息(xi)来(lai)源:本站 日期:2017-09-06 

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器件自身的失效

普通来说,器件的失效率具有图14.1所示的倾向。反映这种倾向的曲线叫做澡盆曲线。澡盆曲线,如图所示能够分为早期失效、偶然失效、耗损失效三个阶段。

1.早期失效

制造(zao)(zao)厂家在器(qi)件出(chu)厂时要进(jin)行全数(shu)检查(cha),只(zhi)要电学(xue)特性(xing)和(he)外观合(he)格者才能(neng)进(jin)入市场(chang)(chang)。但是也难免有差的(de)(de)产(chan)品混入市场(chang)(chang)。经过疲(pi)倦实验的(de)(de)产(chan)品,短时间运(yun)用出(chu)现的(de)(de)失效(xiao)能(neng)够认为是器(qi)件本身的(de)(de)制造(zao)(zao)质量问题。例如(ru),芯片上布线(xian)断(duan)开(kai),封装时引(yin)线(xian)焊接不(bu)牢(lao),硅衬底或(huo)扩散层发作结(jie)晶缺陷(xian),晶体管(guan)的(de)(de)电路阈值奇妙地偏离,器(qi)件制造(zao)(zao)时附着上灰尘、人的(de)(de)汗或(huo)唾液,随(sui)着时间推移惹起性(xing)能(neng)失效(xiao)等,都(dou)是早期(qi)失效(xiao)的(de)(de)缘由。

早期失效经过(guo)停止老化或(huo)者(zhe)高温通电(dian)状态的牢靠(kao)性(xing)加速实验(~168小时)能够降低。出厂检查(cha)时或(huo)者(zhe)按用户请求将各种电(dian)子元器(qi)件组装成(cheng)设备出厂行(xing)进行(xing)这(zhei)些(xie)检查(cha),能够减少(shao)早期失效。

2.偶尔失效

器(qi)件的(de)失(shi)(shi)效(xiao)形式没有(you)规(gui)律(lv)性,或者说没有(you)连续(xu)性。呈现在失(shi)(shi)效(xiao)率(lv)很低的(de)稳定期,要进(jin)一步降低失(shi)(shi)效(xiao)率(lv)有(you)艰(jian)难。有(you)时会由于用(yong)户的(de)运(yun)用(yong)环(huan)境偶(ou)尔呈现器(qi)件过载惹起,要辨别失(shi)(shi)效(xiao)缘(yuan)由有(you)艰(jian)难。处理方法是(shi)确保器(qi)件本身设(she)计(ji)的(de)坚韧性(巩固性,设(she)计(ji)规(gui)则上留有(you)一定的(de)余量)。

但是要进步坚韧性就(jiu)要增(zeng)大(da)芯(xin)片(pian)尺寸(cun)(cun)。从集成(cheng)化(hua)(芯(xin)片(pian)尺寸(cun)(cun))/成(cheng)本的角度看是不利(li)的。

3.耗损失效

相(xiang)当于(yu)器件的寿(shou)命。设计的坚(jian)韧(ren)性影(ying)响很大。半导体产(chan)品假如在(zai)四(si)周环境(jing)(温度、湿(shi)度等(deng))以(yi)及电学(xue)特(te)性额定值以(yi)内运用的话(hua),寿(shou)命应该在(zai)10年以(yi)上。

定(ding)制产品或(huo)特定(ding)用处的ASSP(Application Specific Standard Product,专(zhuan)用定(ding)制产品)中,往往是(shi)厂家与(yu)用户意见(jian)一致地决定(ding)器件可靠性(xing)水平的目标(biao)值。


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